Átviteli elektronmikroszkóp teszt (TEM)

A TEM egyetlen atomoszlopokat vizsgálhat az optikai mikroszkópia (OM) tízezerszer meghaladó nagyítással.

Koncentrált elektronnyaláb halad át egy nagyon finom mintán. Az elektron sűrűségétől függően a minta különböző területei eltérően hatnak egymással a nyalábdal. Az így kapott kép az elektronsűrűség gradiens mezőit ábrázolja. 

A transzmissziós elektronmikroszkóp-elemzés nagyszerű megközelítés a kopolimerek és keverékek fáziseloszlásának dokumentálásához.

Sok mintának elegendő kontrasztja van az előkészítés során. Festési technikát alkalmaznak azonban ahhoz, hogy egyes mintákkal kellő kontrasztot kapjanak. Például a mátrix telítetlen komponenseit ruténium-tetroxiddal festjük. Ez a módszer feltárja a gumifázis eloszlását egy polisztirol mátrixban.

Az ultrafinom mintákat polimer darabokon vagy beágyazott mintákon készítjük mikrotóm vagy krio mikrotom alkalmazásával.

A TEM-minták általában nagyon vékonyak, körülbelül 0.1 mikron vastagok. A mintákat a minta régióiból veszik, annak a célnak megfelelően, amelyet remélni fog elérni a TEM teszt segítségével. 

Kérjük, lépjen kapcsolatba velünk, hogy részletesen megvitassuk a konkrét mintakérdéseket.