Röntgen fluoreszcencia spektroszkópia (XRF)

A röntgenfluoreszcencia spektroszkópia (XRF) a mintából kibocsátott jellegzetes röntgensugarakat méri, miután nagy energiájú sugárzás bombázta.

Ezt az analitikai technikát használják a fém, kerámia és kompozit anyagok alapösszetételének mérésére. Ez a technika alkalmazható a polimer mátrix fémetartalmának mérésére is, és a mintától függően kvantitatív vagy félkvantitatív eredményeket szolgáltat.

Az XRF egy roncsolásmentes analitikai technika, amely nagy energiájú röntgensugarakkal bombázza a mintát, ami a minták atomjainak ionizációját okozza, és elektronokat dob ​​ki a pályájukról. A kidobott elektronokat más pályákról eső elektronok helyettesítik, és a leeső elektronok röntgensugarakat bocsátanak ki, amelyek egyedi energiaszinttel rendelkeznek attól függően, hogy melyik pályáról érkeztek és milyen messzire estek. A kibocsátott röntgensugarak energiájának és mennyiségének mérésével meg lehet állapítani, hogy mely elemek vannak jelen a mintában. Az XRF képes mérni az elemeket a magnéziumtól az uránig (12–92. Atomszám).  

Polimer anyagok esetében a mintákat a kivételük során elemzik, kivéve, ha azok túl vékonyak, ebben az esetben halmozzák össze őket. Ha a minta por vagy pellet, akkor erősebb röntgensugárzás érdekében mintatartályokba csomagolhatja. Mivel az XRF nem képes számszerűsíteni a könnyű elemeket, például a szenet, a nitrogént, az oxigént, a fluort vagy a nátriumot, a legtöbb polimer anyagot RoHS-megfelelés vagy más fémszennyeződés szempontjából tesztelik.

A fémek esetében az XRF-et gyakran használják az ötvözet azonosítására és az RoHS-megfelelés megállapítására. A fémek sűrű anyagok, ezért nagyon kicsi minták könnyen mérhetők. A fémes bevonatok azért is mérhetők, mert az XRF felületi analitikai technika, de valószínűleg nem fogja megmérni az ötvözetet a bevonat alatt, csak ha rendkívül vékony.

A nagyon kicsi vagy a fényelemek számszerűsítését igénylő mintákat energia-diszperzív röntgenspektroszkópiával (SEM-EDS) és pásztázó elektronmikroszkóppal lehet elemezni. 

A szilárd anyagokat leggyakrabban az XRF alkalmazásával értékelik, ezek lehetnek: hőre keményedő vagy hőre lágyuló anyagok, gumi anyagok, fém alkatrészek vagy szinte bármely 3 mm átmérőjű minta. Nincs maximális mintaméret, mivel az XRF egy kézi eszköz, és bármilyen nagy objektum mérésére manipulálható.

A homogén mintákhoz csak XRF-szűrés szükséges. Ha a mintája nem homogén, vagy több vizsgálatra lesz szükség, vagy a minta előkészítését el kell végezni a megbízható vizsgálati eredmények biztosítása érdekében. 

Ha a minták folyékonyak vagy 3 mm-nél kisebbek, csapatunk szeretne veled beszélni a teszt megvalósíthatóságáról. Kérjük, vegye fel velünk a kapcsolatot, hogy megvitassa a mintával kapcsolatos problémákat.