Microscopio a forza atomica (AFM)

Microscopio a forza atomica (AFM)

L'AFM è uno strumento analitico utilizzato per misurare le differenze di modulo e altezza dei materiali nell'intervallo di dimensioni nanometriche.

Microscopio a forza atomica (AFM)

Gli usi principali della microscopia a forza atomica sono la caratterizzazione della morfologia delle nanofasi o della rugosità superficiale. È anche uno strumento eccellente per analizzare la morfologia di fase di sistemi di copolimeri a blocchi separati in microfase o altri prodotti su nanoscala.

La maggior parte degli esempi richiede un approccio personalizzato per accogliere il metodo AFM. I nostri scienziati hanno esperienza e background educativi per sviluppare un approccio appropriato per fornire risultati affidabili.

Il campione deve essere immobilizzato su un substrato piatto. Poiché l'altezza di scansione massima è di circa 10 µm, il campione deve essere abbastanza piatto all'interno dell'area da scansionare. 

I campioni sono tipicamente solo circa 1 cm per 1 cm di area e 5 mm o meno di spessore. Vi preghiamo di contattarci per discutere problemi specifici del campione e le vostre esigenze di test.

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