Analisi delle leghe metalliche con EDX e XRF

Con le sue proprietà come resistenza, duttilità, lavorabilità e prestazioni affidabili alle alte temperature, i metalli sono utilizzati in molti settori, soprattutto per usi strutturali e portanti. Oggi gli scienziati stanno cercando di sviluppare metalli e leghe più resistenti, più leggeri e più malleabili.

In generale, i metalli e le leghe cristalline vengono esaminati con metodi di analisi elementare e strutturale. Ad esempio, il metodo dello spettrometro a emissione ottica è universalmente utilizzato per l'analisi rapida della composizione chimica nel controllo della qualità dei metalli o nell'analisi della produzione e si ottengono risultati affidabili con molti metodi di analisi di base e strutturali.

I due metodi comunemente utilizzati nell'analisi delle leghe metalliche oggi sono:

• EDS (spettroscopia a raggi X a dispersione di energia, spettroscopia a raggi X a dispersione di energia)
• XRF (fluorescenza a raggi X, fluorescenza a raggi X)

L'analisi EDS è un metodo analitico di analisi utilizzato per l'analisi a raggi X a dispersione di energia, l'analisi elementare o la caratterizzazione chimica di un campione. Questo metodo si basa sull'interazione di un campione con la sorgente di eccitazione dei raggi X. Il principio su cui si basa questo metodo è che ogni elemento ha una struttura atomica che consente un diverso insieme di picchi nello spettro di emissione dei raggi X. Nel metodo di analisi EDS, un fascio di elettroni colpisce il campione, eccita un elettrone e l'elettrone esplode creando un buco elettronico nella struttura elettronica dell'elemento.

Nel metodo della spettroscopia a raggi X, il contenuto e la quantità di leghe chimiche vengono determinati misurando i raggi X caratteristici. Gli elementi chimici sono determinati dallo spettrometro dispersivo della lunghezza d'onda dei raggi X o dai raggi X caratteristici emessi dai loro atomi secondo lo spettrometro dispersivo dell'energia dei raggi X (EDS).

Il metodo di analisi XRF (X-ray fluorescence) è una tecnica analitica non distruttiva utilizzata per determinare la composizione di base delle leghe. Con questo dispositivo, la chimica di un campione viene determinata misurando i raggi X di fluorescenza emessi da un campione stimolato da una sorgente di raggi X. Ciascuno degli elementi presenti in un campione produce una serie di raggi X fluorescenti caratteristici che sono diversi per quell'elemento. Pertanto, la spettroscopia XRF è vista come una tecnologia eccellente per l'analisi qualitativa e quantitativa delle leghe.

La nostra organizzazione fornisce servizi di analisi EDX e XRF e di leghe metalliche a organizzazioni esigenti nel quadro di standard nazionali e internazionali, con uno staff preparato ed esperto e attrezzature tecnologiche avanzate, tra numerosi studi di test, misurazione, analisi e valutazione.