La microscopia elettronica a scansione, o analisi SEM, fornisce immagini ad alta risoluzione che sono utili per valutare vari materiali per crepe superficiali, difetti, contaminanti o corrosione. I nostri metallurgisti forniscono una revisione completa delle proprietà dei materiali attraverso l'analisi SEM ed EDX e forniscono informazioni preziose ai produttori.
La microscopia elettronica a scansione (SEM) è una potente tecnica analitica per analizzare un'ampia varietà di materiali ad alti ingrandimenti e produrre immagini ad alta risoluzione. La suite completa di microscopi elettronici di TWI consente l'analisi di molti tipi diversi di campioni, fornendo una risoluzione molto più elevata rispetto a quella di un microscopio ottico convenzionale.
L'analisi SEM è un potente strumento di ricerca che utilizza un fascio di elettroni focalizzato per produrre immagini complesse e ad alto ingrandimento della topografia superficiale di un campione. Una volta che una regione di interesse è stata identificata sul campione e valutata tramite SEM, i nostri esperti possono scavare più a fondo nel materiale utilizzando la spettroscopia a raggi X a dispersione di energia o l'analisi EDX. Alcuni standard di test sono: ASTM E1508, ASTM F1798, ASTM F1820, ASTM F2009 insieme agli standard europei EN.
Perché analisi SEM?
L'analisi visiva di una superficie mediante un microscopio elettronico a scansione contribuisce a identificare i contaminanti o le particelle sconosciute, la causa del guasto e le interazioni tra i materiali.
Oltre alla valutazione della superficie, l'analisi SEM viene utilizzata per la caratterizzazione delle particelle, come i residui di usura formati durante i test di usura meccanica. L'imaging ad alto ingrandimento e ad alta risoluzione della nostra analisi SEM supporta la determinazione del numero, delle dimensioni e della morfologia di piccole particelle, consentendo ai clienti di comprendere le caratteristiche di usura dei loro materiali.
Usi tipici dell'analisi SEM
Combinazione di analisi SEM ed EDX
La spettroscopia a raggi X a dispersione di energia, chiamata anche EDX, EDS o EDAX, fornisce una comprensione aggiuntiva del materiale superficiale durante il processo di analisi SEM. L'analisi EDX viene utilizzata per ottenere la composizione elementare di un campione e consente un risultato più quantitativo di quello che può essere fornito dalla sola analisi SEM. La combinazione di analisi SEM ed EDX offre composizione chimica e ricerca fondamentale e fornisce una valutazione metallurgica completa.
Usi tipici dell'analisi EDX
Spettroscopia a raggi X a dispersione di energia
Ciascuno dei nostri SEM è dotato di apparecchiature di spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDX, indicato anche come EDS). Quando un atomo è esposto a un fascio di elettroni, emette raggi X caratteristici specifici del suo numero atomico; ciò consente di analizzare la composizione elementare di un campione, compresa la scansione lineare e la mappatura degli elementi, ad esempio in un singolo punto o su una vasta regione. L'analisi semiquantitativa può essere eseguita anche per valutare la composizione chimica di un campione. TWI utilizza anche ossigeno, azoto, ecc. Ha capacità di analisi a raggi X a dispersione di lunghezza d'onda (WDX) per rilevare elementi luminosi come In combinazione con l'analisi SEM convenzionale, EDX può dare un'idea più completa della composizione locale di un campione.
Diffrazione retrodiffusa di elettroni
Una delle tecniche quantitative più potenti è la diffrazione a retrodiffusione di elettroni (EBSD), che produce mappe microstrutturali, offre dati cristallografici ad alta risoluzione e analisi della distribuzione di fase, direzione errata (deformazione), dimensione e distribuzione dei grani e orientamento cristallografico preferito (trama). ). Quella che una volta era una tecnica altamente specializzata ora può essere eseguita di routine. La tecnica è fortemente dipendente da un'eccellente preparazione del campione, che può essere organizzata attraverso i nostri laboratori di metallografia.
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