원자력 현미경 (AFM)

AFM은 나노 크기 범위에서 재료의 모듈러스 및 높이 차이를 측정하는 데 사용되는 분석 도구입니다.

원자력 현미경의 주요 용도는 나노 위상 형태 또는 표면 거칠기를 특성화하는 것입니다. 또한 마이크로 상 분리 블록 공중 합체 시스템 또는 기타 나노 규모 제품의 상 형태를 분석하는 데 탁월한 도구입니다.

대부분의 예제는 AFM 방법을 수용하기 위해 맞춤형 접근 방식이 필요합니다. 우리 과학자들은 신뢰할 수있는 결과를 제공하기위한 적절한 접근 방식을 개발할 수있는 경험과 교육적 배경을 가지고 있습니다.

샘플은 평평한 기판에 고정되어야합니다. 최대 스캔 높이는 약 10µm이므로 샘플은 스캔 할 영역 내에서 상당히 평평해야합니다. 

샘플은 일반적으로 면적이 약 1cm x 1cm이고 두께가 5mm 이하입니다. 특정 샘플 문제와 테스트 요구 사항에 대해 논의하려면 당사에 문의하십시오.