에너지 분산 형 X 선 (EDS) 분석

MES는 재료의 기본 구성에 대한 EDS (Energy Dispersive X-Ray) 분석을 제공합니다. EDS는 재료의 기본 구성을 설명하는 데 사용되는 반 정량적 X 선 기술입니다. 응용 분야에는 재료 식별, 코팅 분석, 오염 물질 식별 및 부식 분석이 포함됩니다.

EDS 시스템은 현미경의 이미징 기능이 관심 샘플을 정의하는 주사 전자 현미경 (SEM)에 부착됩니다. EDX 분석으로 생성 된 데이터는 분석 된 샘플의 실제 구성을 구성하는 요소에 해당하는 피크를 보여주는 스펙트럼으로 구성됩니다. 샘플의 기준선 매핑 및 이미지 분석도 가능합니다. EDS 분석 기술은 비파괴 적이며 샘플 준비가 거의 또는 전혀없이 관심 샘플을 검사 할 수 있습니다.

TESTS

• 정성 및 반 정량 요소 구성
• 오염 물질의 빠른 감지
• 배율-5 배에서 300.000 배까지
• 금속, 광물 및 고분자 시료를 포함한 고체 물질
• 라인 스캐닝 및 포인트 매핑 기능

특징

• ASTM E1508-EDS를 사용한 원소 분석

샘플 요구 사항

• 샘플 크기-최대 직경 10 인치, 높이 3 인치.