투과 전자 현미경 테스트 (TEM)

TEM은 광학 현미경 (OM)을 수만 배로 초과하는 배율로 단일 원자 컬럼을 검사 할 수 있습니다.

집중된 전자빔은 매우 미세한 샘플을 통과합니다. 전자 밀도에 따라 샘플의 다양한 영역이 빔과 다르게 상호 작용합니다. 결과 이미지는 전자 밀도의 기울기 필드를 나타냅니다. 

투과 전자 현미경 분석은 코 폴리머와 혼합물의 상 분포를 문서화하는 훌륭한 접근 방식입니다.

많은 샘플이 준비된대로 충분한 대비를 가지고 있습니다. 그러나 일부 샘플과 충분한 대비를 얻기 위해 염색 기술이 사용됩니다. 예를 들어, 매트릭스의 불포화 성분은 루테늄 사 산화물로 염색됩니다. 이 방법은 폴리스티렌 매트릭스에서 고무 상 분포를 나타냅니다.

초 미세 샘플은 마이크로톰 또는 저온 마이크로톰을 사용하여 폴리머 조각 또는 임베디드 샘플에 준비됩니다.

TEM 샘플은 일반적으로 약 0.1 마이크론 두께로 매우 얇습니다. TEM 테스트로 도달하고자하는 목표에 따라 샘플 영역에서 샘플을 채취합니다. 

특정 샘플 문제에 대해 자세히 논의하려면 당사에 문의하십시오.