Mikroskopické analytické a testovacie služby

EUROLAB má desiatky rokov skúseností v testovaní a analýze mikroskopov v rôznych priemyselných odvetviach a aplikáciách. Ponúkame služby optickej, elektrónovej a skenovacej sondy.

Moderná mikroskopia nám umožňuje získavať obrázky z objektov, ktoré nie je možné vidieť voľným okom. Tri hlavné odvetvia mikroskopickej analýzy sú optická, elektrónová a skenovacia mikroskopia.

Aby sme charakterizovali neznámu morfologickú vzorku, začneme s najjednoduchšou metódou optickej mikroskopie (OM) so zväčšením 10 - 1.000 XNUMXx pomocou priepustného svetla (svetlé pole) pre priehľadné a priesvitné vzorky alebo odrazeného svetla pre nepriehľadné vzorky.

Na dosiahnutie väčšieho zväčšenia alebo lepšieho rozlíšenia až na mikro, nano a molekulárnu úroveň používame transmisný elektrónový mikroskop (TEM), skenovací elektrónový mikroskop (SEM) alebo atómový mikroskop (AFM). Metódy mikroskopie volíme v závislosti od potrieb aplikácie a parametrov vzorky. Snímky sú snímané integrovanými CCD kamerami a podrobené ďalšej analýze.

Metódy mikroskopie ponúkajú vynikajúci spôsob, ako porozumieť a charakterizovať štrukturálne vlastnosti výrobkov v mikroskopických a nanorozmeroch. Veľké zväčšenie poskytované vodivým a skenovacím elektrónom a mikroskopmi ponúka obrovskú hodnotu pri identifikácii a hodnotení malých premenných, ktoré môžu viesť k nežiaducim vlastnostiam alebo slúžia na vysvetlenie vynikajúcich vlastností konečného produktu. Kombinácia OM a SEM sú často prvými nástrojmi, ktoré sa používajú na vyhodnotenie povrchu chybnej súčasti, aby sa zistila príčina poruchy, napríklad to, či súčiastka zlyhala tvárna alebo krehká.

Mikroskopia s vysokým rozlíšením sa široko používa v materiálových vedách, polymérnych kompozitoch, analýze častíc, nanotechnológiách a výskume polovodičov. EUROLAB často používa mikroskopické metódy na testovanie:

• Nanomateriály
• textil
• filmy
• povlaky
• Lisované diely
• A veľa ďalších materiálov

EUROLAB je mikroskopické testovacie laboratórium s 20-ročnými skúsenosťami v nasledujúcich a ďalších metódach:

Optická mikroskopia (OM) využíva viditeľné svetlo na zväčšenie oblasti vzorky 10 - 1.000 XNUMXx. Táto technika mikroskopickej analýzy je zvyčajne prvou technikou, ktorá sa použije pred ďalším mikroskopickým testovaním.

Transmisná elektrónová mikroskopia (TEM) využíva elektrónový lúč, ktorý prechádza veľmi tenkým plátkom vzorky a je najlepší na získanie informácií o priehľadných alebo priesvitných filmoch alebo biologických štruktúrach s rozlíšením nanometrov.

Skenovacia elektrónová mikroskopia (SEM) skenuje povrch vzorky pomocou vysoko zaostreného lúča elektrónov na získanie povrchového obrazu. SEM je možné kombinovať s energetickou disperznou spektroskopiou (EDS), čo nám umožňuje určiť základné zloženie vzorky.

Mikroskop pre atómovú silu (AFM) využíva mechanický konzolový stroj s ostrými hranami na skenovanie plochého povrchu vzorky s najvyšším rozlíšením až na zlomok nanometra. Môže pracovať v okolitých podmienkach.

Optická dvojlomnosť sa používa na hodnotenie mechanického napätia prítomného v priehľadných materiáloch. Vzorka sa skúma nedeštruktívne cez filtre s krížovou polarizáciou.

Analýza obrazu umožňuje našim vedcom extrahovať zmysluplné informácie z mikroskopických obrazov, ako sú veľkosť a geometria morfologických znakov.