Hĺbkové profilovanie a povrchová analýza

K dispozícii sú analytické metódy, ktoré umožňujú detekciu najvzdialenejších molekulárnych vrstiev produktu vrátane organických a anorganických materiálov. Metódy citlivé na povrch hodnotia 1 až 10 molekulárnych vrstiev.

Niektoré metódy je možné prevádzkovať v režime hĺbkového profilovania pomocou energetických lúčov na extrakciu materiálu po jednej molekulárnej vrstve. Zatiaľ čo sa extrahujú molekulárne vrstvy, analyzuje sa novovytvorený povrch. Ak má vzorka „makro vrstvy“, je vhodným analytickým prístupom prierez a leštenie.

Naši vedci používajú na vykonávanie hĺbkovej profilácie povrchových analýz nasledujúce schopnosti:

• Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia (XPS)
• Skenovací elektrónový mikroskop / energeticky disperzná spektroskopia (SEM / EDS)

Pretože metódy povrchovej analýzy detegujú najvzdialenejšie molekulárne vrstvy, je dôležité zabaliť vzorky takým spôsobom, aby sa do záujmovej oblasti nepridával ani neodstraňoval žiadny materiál. Naši vedci použijú metódy prípravy vzoriek, ako sú mikroplastovanie, rezanie a leštenie, na získanie povrchovej analýzy a informácií o hĺbkovom profile vzoriek.

V prípade týchto metód je veľkosť vzorky riadená samotnou vzorkou, pričom sa vždy dbá na to, aby sa udržala rezerva materiálu mimo konkrétnej oblasti, ktorá sa má testovať.

Naši vedci môžu poskytnúť usmernenie, aby sa ubezpečil, že analytické vzorky sú správne zabalené. Kontaktujte nás, aby ste podrobnejšie prediskutovali vzorové body.