Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia

XPS je kvantitatívna spektroskopická technika, ktorú je možné použiť na analýzu povrchovej chémie materiálu v stave „ako bol prijatý“.

Röntgenová fotoelektrónová spektroskopia (XPS) môže analyzovať chémiu vzorky na povrchu asi 6 nanometrov alebo menej. XPS je tiež známy ako ESCA, čo je skratka pre Electron Spectroscopy for Chemical Analysis. Detekčné limity pre väčšinu prvkov sú v rozsahu tisícov dielov.

Metóda XPS určuje chemické zloženie jednej až desiatich najvzdialenejších molekulárnych vrstiev vzorky. Je veľmi dôležité, aby sa do skúmanej oblasti záujmu zámerne nepridával ani neodstraňoval žiadny materiál. 

Malá bodová röntgenová fotoelektrónová spektroskopia (XPS) využíva röntgenovú mikroskopickú sondu Phi Quantera na vykonávanie XPS analýzy v bodoch malých ako 20 mikrónov.

Hĺbka vzorkovania XPS je približne 10 nm. Pretože táto technika analyzuje povrchy vzoriek, je veľmi dôležité so vzorkou správne manipulovať, zabaliť ju a odoslať. Najlepšie je sa porozprávať priamo s našimi vedcami pred odovzdaním vzoriek. Poskytneme návod na balenie a prepravu vzoriek a môžeme vám navrhnúť zaslanie vhodných obalových materiálov. 

Vzorky umiestnené na XPS spektrometri majú obvykle priemer asi jeden palec a menej ako jeden palec. Zariadenie XPS pracuje pri vysokom vákuu, takže prchavé zložky vzorky sa odstránia počas čerpacieho cyklu. Metóda XPS dokumentuje prvky z neprchavých chemických zlúčenín nájdených v povrchovej oblasti vzorky.

Pokiaľ ide o konkrétne otázky týkajúce sa posúdenia vzorky, kontaktujte nás.