X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi

XPS, "alındığı gibi" durumunda bir malzemenin yüzey kimyasını analiz etmek için kullanılabilen nicel bir spektroskopik tekniktir.

X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS), bir numunenin kimyasını, yüzeyin yaklaşık 6 nanometre veya daha azında analiz edebilir. XPS, Kimyasal Analiz için Elektron Spektroskopisinin kısaltması olan ESCA olarak da bilinir. Çoğu eleman için algılama sınırları, bin aralıkta parça içindedir.

XPS yöntemi, bir numunenin en dıştaki bir ila on moleküler katmanının kimyasal bileşimini belirler. İlgili numune bölgesine kasıtlı olarak hiçbir malzeme eklenmemesi veya buradan çıkarılmaması çok önemlidir. 

Küçük Nokta X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS), 20 mikron kadar küçük noktalarda XPS analizi gerçekleştirmek için Phi Quantera Taramalı X-ışını mikroprobunu kullanır.

XPS'nin örnekleme derinliği yaklaşık 10 nm'dir. Bu teknik numunelerin yüzeylerini analiz ettiğinden, numunenin uygun şekilde işlenmesi, paketlenmesi ve sevk edilmesi çok önemlidir. Örnekleri göndermeden önce bilim adamlarımızla doğrudan konuşmak en iyisidir. Numunelerin paketlenmesi ve nakliyesi konusunda rehberlik sağlayacağız ve size uygun paketleme malzemelerini göndermeyi önerebiliriz. 

XPS spektrometresine konulan numuneler tipik olarak yaklaşık bir inç çapında ve yarım inç veya daha az yüksekliktedir. XPS cihazı yüksek vakumda çalışır, bu nedenle bir numunenin uçucu bileşenleri, pompalama döngüsü sırasında çıkarılır. XPS yöntemi, numunenin yüzey bölgesinde bulunan uçucu olmayan kimyasal bileşiklerden elementleri belgeler.

Belirli örnek değerlendirme sorularınız için lütfen bizimle iletişime geçin.